HT instruments SOLAR I-V - Manuale (Pagina 21)

I-V400 - SOLAR I-V
IT - 19
5.3. DB – GESTIONE DATABASE MODULI
Lo strumento permette la gestione fino ad un massimo di 30 tipologie di moduli FV
oltre ad un modulo di DEFAULT (non modificabile né cancellabile) che può essere usato
come riferimento qualora non si abbiamo informazioni sul tipo di modulo a disposizione.
I parametri, riferiti a 1 modulo, che possono essere impostati nella definizione sono
riportati nella Tabella 1 seguente, insieme ai campi di misura, risoluzione e condizioni di
validità:
Simbolo Descrizione Range Risol. Condizioni
Nms Numero moduli per stringa 1
 50
1
Pmax
Potenza massima nominale del
modulo
50
 3200W
1W 01 . 0
max
max 
 
P
I V P
mpp mpp
Voc Tensione a vuoto
15.00
 99.99V
100.0
 320.0V
0.01V
0.1V
Voc
 Vmpp
Vmpp
Tensione nel punto di massima
potenza
15.00
 99.99V
100.0
 320.0V
0.01V
0.1V
Voc
 Vmpp
Isc Corrente di cortocircuito 0.5
 9.99A
0.01A Isc
 Impp
Impp
Corrente nel punto di massima
potenza
0.5
 9.99A
0.01A Isc
 Impp
Toll -
Tolleranza negativa per la Pmax
fornita dal costruttore del modulo
0%
 25.0%
0.1%
100*Tol
-
/Pnom< 25
0
 99W
1
Toll +
Tolleranza positiva per la Pmax fornita
dal costruttore del modulo
0
 25%
0.1%
100*Tol
+
/Pnom< 25
0
 99W
1
Alpha Coefficiente di temperatura Isc
-0.100
0.100%/°C 0.001%/°C
0.1*Alfa / Isc
 0.1
-9.99
 9.99mA/°C 0.01mA/°C
Beta Coefficiente di temperatura Voc
-0.99
 -0.01%/°C
0.01%/°C
100*Beta/Voc
 0.999
-0.999
 0.001V/°C 0.001V/°C
Gamma Coefficiente di temperatura Pmax -0.99
 -0.01%/°C
0.01%/°C
NOCT
Temperatura nominale di lavoro della
cella
0
 100°C
1°C
Tech.
Effetti dovuti alla tecnologia del
modulo
STD (standard),
CAP (eff.capacitivi)
Rs Resistenza serie interna 0.00
 10.00 0.01
Tabella 1: Parametri associati ad un modulo FV
ATTENZIONE
 La voce “Tech” è riferita alla scelta della tecnologia del modulo in prova.
Selezionare l’opzione “STD” in caso di test su moduli FV di tipo
“STANDARD” oppure l’opzione “CAP” in caso di moduli FV con effetti
capacitivi considerevoli (ex: tecnologia HIT/HIP)
 La scelta errata del tipo di tecnologia può comportare un esito negativo del
test finale