A2 diagrammi dei tempi, A.2.1 tempi dei sistemi con uscita trip, A.2.2 tempi dei sistemi con uscita latch – Banner EZ-SCREEN­ Safety Light Curtain Systems Manuale d'uso

Pagina 73: Figura 35 a, Alla, Figura 34 a, Sistema ez-screen, Tipo 2 appendice 2

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Sistema EZ-SCREEN

®

Tipo 2

Appendice 2

MANUALE D’ISTRUZIONI - VERSIONE EUROPEA

119249 rev. A 29.11.06

65

A2 DIAGRAMMI DEI TEMPI

A.2.1 TEMPI DEI SISTEMI CON USCITA TRIP

Per generare un test [controllo] affidabile per il Sistema
EZ-SCREEN Tipo 2 configurato per uscita Trip e per la sua inter-
faccia, l’ingresso TEST/RESET (pin 8) deve restare aperto per
più di 0,25 s. Periodi inferiori ai 0,25 s dovranno essere ignora-
ti. Una volta che l’ingresso TEST/RESET (pin 8) si è richiuso e
che la zona di rilevamento è libera, le uscite OSSD si porteranno
allo stato ON (vedere la

Figura 33 a pagina 65

).

A.2.2 TEMPI DEI SISTEMI CON USCITA LATCH

Per generare un test [controllo] affidabile per il Sistema
EZ-SCREEN Tipo 2 configurato per uscita Latch e per la sua in-
terfaccia, l’ingresso TEST/RESET (pin 8) deve restare aperto per
più di 0,25 s. Periodi inferiori ai 0,25 s dovranno essere ignorati.
Per uscire da una condizione di blocco di sistema all’accensione
(avvio), da una condizione Latch (riavvio) o da un blocco dovuto
ad una condizione di guasto (reset), la zona di rilevamento deve
essere ripristinata e l’ingresso TEST/RESET (pin 8) deve essere
aperto per un tempo superiore a 0,25 s e quindi richiuso. Pre-
sumendo che la zona di rilevamento sia sgombra da ostacoli, le
uscite OSSD si portano allo stato ON (vedere la

Figura 34 a

pagina 65

).

A.2.3 TEMPI DEI SISTEMI TRIP-BLOCCO/

RESET E LATCH-AVVIO/RIAVVIO

Per uscire da una condizione di blocco di sistema all’accensione
(avvio), da una condizione Latch (riavvio) o da un blocco dovuto
ad una condizione di guasto (reset), la zona di rilevamento deve
essere ripristinata e l’ingresso TEST/RESET (pin 8) deve essere
aperto per un tempo superiore a 0,25 s e quindi richiuso. Pre-
sumendo che la zona di rilevamento sia sgombra da ostacoli, le
uscite OSSD si portano allo stato ON (vedere la

Figura 35 a

pagina 65

).

Figura 33 Diagramma dei tempi di test per sistemi con uscita Trip

ON

OFF

24 Vcc

0 Vcc

0,25 s

0,25 s

TEST

STATO

USCITA

Figura 34 Diagramma dei tempi di test per sistemi con uscita Latch

ON

OFF

24 Vcc

0 Vcc

0,25 s

0,25 s

TEST

0,25 s

0,25 s

STATO

USCITA

Figura 35 Diagramma dei tempi di Avvio/Reset per sistemi con uscita

OFF

24 Vcc

0 Vcc

0,25 s

0,25 s

AVVIO

STATO

USCITA

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